泉科瑞達(dá)(qktestetr)共有四款薄膜隔膜測厚儀，均是按照GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度測定 機(jī)械測量法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，具有零點(diǎn)穩(wěn)定性好、數(shù)據(jù)重復(fù)性高等優(yōu)勢，專門用于測定各種薄膜、隔膜、鋁箔、金屬箔片等材料的厚度。

四款薄膜測厚儀分別為：一款CHY-01手持MINI臺式厚度儀、CHY-02B薄膜測厚儀、CHY-02H薄膜測厚儀、CHY-03H自動進(jìn)樣薄膜測厚儀。

CHY-02H與CHY-03自動進(jìn)樣薄膜測厚儀為業(yè)內(nèi)高端機(jī)型，其測試精度處于業(yè)內(nèi)頭部水平。

一、主要執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672 塑料薄膜和薄片厚度測定 機(jī)械測量法、ISO 4593:2019塑料 薄膜和片材 通過機(jī)械掃描測定厚度、ASTM D374 固體電絕緣厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法、ASTM D1777美國材料與試驗(yàn)協(xié)會（ASTM）制定的紡織材料厚度測試標(biāo)準(zhǔn)。

二、薄膜、薄片、箔片厚度測試原理

基于機(jī)械接觸法,即通過精密儀器在恒定壓力和標(biāo)準(zhǔn)接觸面積下測量材料的厚度；本方法的儀器基本上能涵蓋大多數(shù)軟質(zhì)材料的厚度測定。

三、實(shí)施精準(zhǔn)厚度測試的意義

厚度測量早已從一個(gè)簡單的物理量檢測，發(fā)展成為現(xiàn)代精密材料工業(yè)中不可或缺的過程控制和質(zhì)量管理的核心環(huán)節(jié)。

1、提高原料利用率： 薄膜和箔材的生產(chǎn)原料（如聚合物、金屬）成本高昂。通過精準(zhǔn)的測厚系統(tǒng)控制，可以實(shí)時(shí)調(diào)整生產(chǎn)工藝，將厚度控制在公差范圍的下限附近，從而在保證性能的前提下顯著節(jié)省原料。每微米的節(jié)省都可能帶來巨大的經(jīng)濟(jì)效益。

2、保證生產(chǎn)穩(wěn)定性： 實(shí)時(shí)厚度數(shù)據(jù)可以反饋給擠出、拉伸、壓延等生產(chǎn)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)閉環(huán)自動控制，及時(shí)糾正厚度偏差，減少廢品率，提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品一致性。

3、實(shí)現(xiàn)全面質(zhì)量監(jiān)控： 高精度的掃描式測厚系統(tǒng)可以生成整個(gè)卷材的“厚度輪廓圖”，全面反映產(chǎn)品在橫向（CD）和縱向（MD）的均勻性，為工藝優(yōu)化提供直觀的數(shù)據(jù)支持。